Leica DCM8

Perfilómetro óptico para la metrología de superficies 3D sin contacto. Combina la metrología confocal en HD con la interferometría en un sistema versátil de doble núcleo. El software de alto rendimiento, la sencilla selección de módulos con un solo clic y el escaneo confocal sin partes móviles ayudan a que el análisis sea muy eficiente y rápido. Medición confocal HD con resolución vertical de hasta 2nm para superficies con áreas inclinadas y estructuras intrincadas. Interferometría con una resolución de hasta 0,1 mm para superficies planas con microestructuras. Captura de datos rápida y reproducible gracias a la innovadora tecnología de escaneo de micropantallas HD sin partes móviles en el cabezal del sensor. La cámara CCD HD integrada tiene un campo de visión extra grande, para el análisis de áreas más grandes. Imágenes a color realistas gracias a cuatro LEDs de color en el cabezal del sensor.