EM TIC 3X - Equipo de pulido iónico

Sistema de corte y pulido con haz de iones Leica EM TIC 3X

Descripción

El sistema de corte y pulido con triple haz de iones Leica EM TIC 3X permite obtener secciones transversales y superficies pulidas para la microscopía electrónica de barrido (SEM), el análisis de microestructuras (EDS, WDS, Auger, EBSD) y estudios AFM. Con el Leica EM TIX 3X obtendrá superficies de alta calidad en prácticamente cualquier material al trabajar tanto a temperatura ambiente como en condiciones criogénicas, y podrá observar las estructuras internas de la muestra en un estado lo más próximo posible a su estado natural.

Domain icon Fabricante/ Productor

35578 Wetzlar - Alemania

Contactar

Solicitud de presupuestos

Cree una solicitud y obtenga múltiples presupuestos de proveedores verificados

  • Sólo proveedores relevantes
  • Cumple con la privacidad de datos
  • 100% gratuito